Název: Studium lokální struktury binárních povrchů metodou fotoelektronové (XPD) a elektronové difrakce (LEED)
Překlad názvu: Study of the local structure of binary surfaces by electron diffraction (XPS, LEED)
Autoři: Gereová, Katarína ; Matolín, Vladimír (vedoucí práce) ; Pavluch, Jiří (oponent)
Typ dokumentu: Diplomové práce
Rok: 2006
Jazyk: cze
Abstrakt: [cze] [eng]
Úkolem diplomové práce bylo studium lokální struktury binárních povrchů, pro kterou jsme si zvolili tenkou vrstvu céru deponovaného na povrchu mono-krystalu Pd (111). Pro studium a zkoumání povrchu byly použity metody: fotoelektronová spektroskopie a difrakce (XPS, XPD), difrakce elektronů s nízkou energií (LEED) a úhlově rozlišená UPS (ARUPS). Těmito metodami lze zobrazit geometrické uspořádání povrchu, valenční pás, ale rovněž lze mapovat i pásovou strukturu a studovat tak elektronovou strukturu zkoumané látky. Takto získané informace poslouží k porozumění jevů, které se odehrávají na samotném povrchu. Study of local structure of binary surface with usage of ultra-thin film of cerium deposited on a Pd (111) single-crystal surface is presented. X-ray photoelectron spectroscopy and diffraction (XPS, XPD), angle resolved UV photoemission spectroscopy (ARUPS) and low energy electron diffraction (LEED) was used for our investigations. LEED and X-ray excited photoemission intensities results represent a surface-geometrical structure. As well, mapping of ultra-violet photoelectron intensities as a function of emission angles is used for a band mapping and an electronic structure determination.

Instituce: Fakulty UK (VŠKP) (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dostupné v digitálním repozitáři UK.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/20.500.11956/7703

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-270187


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Univerzita Karlova > Fakulty UK (VŠKP)
Vysokoškolské kvalifikační práce > Diplomové práce