Název: Examination of electronic structures and materials in scanning low energy electron microscope (SLEEM)
Překlad názvu: Zkoumání elektronických struktur a materiálů v rastrovacím nízko-energiovém elektronovém mikroskopu (SLEEM)
Autoři: Müllerová, Ilona ; Frank, Luděk
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: NANO'03 International Conference, Brno (CZ), 2003-09-21 / 2003-09-23
Rok: 2003
Jazyk: eng
Abstrakt: [eng] [cze]
The SLEEM mode, available via moderate adaptation to a conventional SEM, is capable of providing the image resolution nearly constant over the full energy range from the primary beam energy down to even fractions of eV. In this way, one can enter multiple novel contrast mechanisms, directly visualizing details of crystallinic and electronic structure of the specimen, which are particularly important in development and diagnostics of nano-structured materials and devices Režim SLEEM, který je v běžném SEM k dispozici po menší adaptaci, umožňuje dosažení téměř konstantního obrazového rozlišení v celém energiovém rozsahu od energie primárních elektronů až do zlomku eV. Takto je možné studovat mnoho nových kontrastních mechanizmů přímo zviditelňujících detaily krystalických a elektronických struktur vzorku, které jsou důležité zejména ve vývoji a diagnostice nano-strukturních materiálů a prvků
Klíčová slova: electronic structures of the specimen; image resolutions; SLEEM
Číslo projektu: IAA1065304 (CEP)
Poskytovatel projektu: GA AV ČR
Zdrojový dokument: Proceedings of the International Conference NANO'03, ISBN 80-214-2527-X

Instituce: Ústav přístrojové techniky AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0007526

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-19261


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Ústav přístrojové techniky
Konferenční materiály > Příspěvky z konference