Název: Charakteristika snímků z rastrovacího transmisního elektronového mikroskopu tenkých biologických řezů
Překlad názvu: Characterization of scanning transmission electron microscopy images of thin biological sections
Autoři: Novotná, Veronika ; Nebesářová,, Jana (oponent) ; Krzyžánek, Vladislav (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Diplomové práce
Rok: 2014
Jazyk: eng
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: [eng] [cze]
Diplomová práce popisuje fyzikální principy mikroskopů TEM, SEM a STEM spolu s jejich vhodností pro pozorování vzorků citlivých na elektrony, jako jsou zalévací média či biologické vzorky. Dále je popsána příprava vzorků pro STEM (TEM) a popis interakcí, ke kterým dochází mezi primárním elektronovým svazkem a vzorkem. Součástí práce je také pojednání o zpracování mikroskopických obrazů s podkapitolou o metodách kvantitativního porovnání obrazů ze STEM. Praktická část práce je zaměřena zejména na měření úbytku hmoty zalévacích médií (Epon, Spurr, LR White) způsobený primárním svazkem elektronů v nízkonapěťovém STEM. Ultratenké řezy několika tlouštěk byly zkoumány při různých nastaveních mikroskopu (urychlovací napětí, celková dávka, proud svazku, čištění povrchu vzorku a komory mikroskopu) a zobrazovacích módech (světlé a tmavé pole). Dále jsou zkoumány také biologické vzorky Krásnoočka štíhlého (Euglena gracilis) zalitého v pryskyřicích Epon a Spurr. Nasbírané snímky, vytvořené algoritmy a získané výsledky jsou diskutovány a zhodnoceny. This master´s thesis describes physical principles of the TEM, the SEM and the STEM and their suitability for observation of electron-sensitive samples (embedding media, biological specimens). The interaction between the incident electron beam and the sample is also discussed, as well as the sample preparation for the STEM (TEM). Furthermore, a description of microscopic image processing is included with a section about quantitative comparison of the STEM images. The thesis is focused on the mass loss of pure embedding media (Epon, Spurr, LR White) caused by the electron beam in the low voltage STEM. The samples of different thicknesses were investigated using different microscope settings (acceleration voltage, total dose, probe current, cleaning of the sample surface and specimen chamber) and the STEM imaging modes (bright-field, dark-field). Furthermore, biological samples of Euglena gracilis embedded in Epon and Spurr are examined. Collected images, created algorithms and obtained results are widely discussed.
Klíčová slova: Embedding media; Epon; Euglena gracilis; Image processing; LR White; Mass loss; Sample preparation; SEM; SNR; Spurr; STEM; TEM; Epon; Euglena gracilis; LR White; příprava vzorků; SEM; SNR; Spurr; STEM; TEM; zalévací média; zpracování obrazu; úbytek hmoty

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/31577

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-220844


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Diplomové práce