Název: Optimalizace procesu kontaktování CMOS čipů pro vyšší proudové zatížení
Překlad názvu: Optimalization of CMOS Chip Interconnection Process for Higher Current Load
Autoři: Novotný, Marek ; Mach,, Pavel (oponent) ; Hulenyi,, Ladislav (oponent) ; Szendiuch, Ivan (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Disertační práce
Rok: 2009
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: [cze] [eng]

Klíčová slova: ANSYS; drátkové propojení; kontaktování; proudová hustota; přechodový odpor; ANSYS; current density; interconnection; transition resistance; wire bonding

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/13940

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-233455


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Disertační práce
 Záznam vytvořen dne 2016-06-03, naposledy upraven 2022-09-04.


Není přiložen dokument
  • Exportovat ve formátu DC, NUŠL, RIS
  • Sdílet