Název: Metody pro testování analogových obvodů
Překlad názvu: Methods for testing of analog circuits
Autoři: Kincl, Zdeněk ; Vlček, Čestmír (oponent) ; Husák, Miroslav (oponent) ; Kolka, Zdeněk (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Disertační práce
Rok: 2013
Jazyk: eng
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: [eng] [cze]
Práce se zabývá metodami pro testování lineárních analogových obvodů v kmitočtové oblasti. Cílem je navrhnout efektivní metody pro automatické generování testovacího plánu. Snížením počtu měření a výpočetní náročnosti lze výrazně snížit náklady za testování. Práce se zabývá multifrekveční parametrickou poruchovou analýzou, která byla plně implementována do programu Matlab. Vhodnou volbou testovacích kmitočtů lze potlačit chyby měření a chyby způsobené výrobními tolerancemi obvodových prvků. Navržené metody pro optimální volbu kmitočtů byly statisticky ověřeny metodou MonteCarlo. Pro zvýšení přesnosti a snížení výpočetní náročnosti poruchové analýzy byly vyvinuty postupy založené na metodě nejmenších čtverců a přibližné symbolické analýze. The thesis deals with methods for testing of linear analog circuits in the frequency domain. The goal is to develop new efficient methods for automatic test plan generation. To reduce test costs a minimum number of measurements as well as less computational demands are the fundamental aims. The thesis is focused on the multi-frequency parametric fault diagnosis which was fully implemented in the Matlab program. The fundamental problem consists in selection of test frequencies which can reduce the influences of measurement errors and errors caused by tolerances of well-working components. The proposed methods for test frequency selection were statistically verified by the MonteCarlo method. To improve the accuracy and reduce the computational complexity of fault diagnosis, the methods based on least-square techniques and approximate symbolic analysis were presented.
Klíčová slova: Analog circuits; approximate symbolic analysis; ATPG; automatic test pattern generation; design for testability; DfT.; fault modelling; multi-frequency parametric fault diagnosis; overdetermined system; parameter reduction; test frequency selection; testability analysis; Analogové obvody; analýza testovatelnosti; ATPG; automatické generování testovacího plánu; DfT.; modelování poruch; multifrekvenční parametrická poruchová analýza; návrh pro snadnou testovatelnost; přeurčená soustava rovnic; přibližná symbolická analýza; redukce parametrů; volba testovacích kmitočtů

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/24908

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-233583


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Disertační práce