Název: Bandpass filter for secondary electrons in SEM - experiments
Autoři: Mika, Filip ; Konvalina, Ivo ; Krátký, Stanislav ; Müllerová, Ilona
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./, Skalský dvůr (CZ), 20160529
Rok: 2016
Jazyk: eng
Abstrakt: Bandpass energy filtering using a through-the-lens secondary electron (TLD) detector in a field emission gun SEM (FEG-SEM) has been known over a decade. During energy filtering, image contrast is changed and new information about the material can be observed. Our motivation for this study was to compare theoretical calculations with the experimental data\nof the SE bandpass energy filter in Magellan 400 FEG SEM. The TLD detector works as a bandpass energy filter for the special setup of electrode potentials inside the objective lens, with the positive potential on the specimen regulating the energy window.
Klíčová slova: electron microscopy; TLD
Číslo projektu: TE01020118 (CEP), LO1212 (CEP), ED0017/01/01
Poskytovatel projektu: GA TA ČR, GA MŠk, GA MŠk
Zdrojový dokument: Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation, ISBN 978-80-87441-17-6
Poznámka: Související webová stránka: http://www.trends.isibrno.cz/

Instituce: Ústav přístrojové techniky AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0260337

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-253625


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Ústav přístrojové techniky
Konferenční materiály > Příspěvky z konference