Název: Scanning very low energy electron microscopy for the characterization of polycrystalline metal samples
Autoři: Pokorná, Zuzana ; Knápek, Alexandr
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /15./, Skalský dvůr (CZ), 20160529
Rok: 2016
Jazyk: eng
Abstrakt: We explored the possibility of a Scanning Electron Microscopy technique for the determination of crystallographic orientation, based on the measurement of the reflectivity of very low energy electrons. Our experiments are based on the concept that in the incident electron energy range 0–30 eV, electron reflectivity can be correlated with the electronic structure of the material, which varies with the local crystallographic orientation of the specimen.\nThe motivation for the development of this technique was to achieve a quick and highresolution means for determining the crystallographic orientation of very small grains in a polycrystalline material. The key limiting factor was the cleanliness of the sample surface and also the geometrical setup of the experiment.
Klíčová slova: crystallographic orientation; electron microscopy; SEM
Zdrojový dokument: Proceedings of the 15th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation, ISBN 978-80-87441-17-6
Poznámka: Související webová stránka: http://www.trends.isibrno.cz/

Instituce: Ústav přístrojové techniky AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0260341

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-253629


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Ústav přístrojové techniky
Konferenční materiály > Příspěvky z konference