Název: Optimalizace testu digitálního obvodu multifunkčními prvky
Překlad názvu: Digital circuits test optimization by multifunctional components
Autoři: Stareček, Lukáš ; Gramatová, Elena (oponent) ; Kubátová, Hana (oponent) ; Kotásek, Zdeněk (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Disertační práce
Rok: 2012
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta informačních technologií
Abstrakt: [cze] [eng]
Tato práce se zabývá možností optimalizace testu číslicových obvodů pomocí multifunkčních logických hradel. Nejdůležitější částí práce je vysvětlení samotného principu optimalizace, který je popsán také formálními matematickými prostředky. Na základě tohoto popisu je v práci prezentováno několik možností využití. Ukázána je optimalizace testovatelnosti obdobná metodě vkládání testovacích bodů a jednoduchá metodika založena na základě SCOAP. Těžištěm práce je však metodika, která byla vytvořena pro optimalizaci testu obvodu. Ta byla implementována v podobě softwarových nástrojů. V práci jsou následně prezentovány výsledky použití těchto nástrojů na úloze snížení počtu testovacích vektorů se zachováním pokrytí poruch pro různé obvody včetně testovací sady ISCAS 85. Část práce je věnována také různým principům a technologiím tvorby multifunkčních logických hradel. Některá vybraná hradla z těchto technologií jsou podrobena simulacím elektronických vlastností ve SPICE. Na základě principů prezentované metodiky a výsledků simulací multifunkčních hradel je také provedena analýza a rozbor různých problémů jako je platnost testu modifikovaného obvodu a vhodnost jednotlivých technologií multifunkčních hradel pro danou metodiku. Výsledky analýz a provedených experimentů je potvrzeno, že pomocí multifunkčních hradel lze optimalizovat diagnostické vlastnosti obvodu takovým způsobem, aby došlo k požadovaným úpravám parametrů výsledných testů obvodů při minimálních dopadech na kvalitu a věrohodnost těchto testů. This thesis deals with the possibilities of digital circuit test optimization using multifunctional logic gates. The most important part of this thesis is the explanation of the optimization principle, which is also described by a formal mathematical apparatus. Based on this apparatus, the work presents several options. The optimization of testability analogous to inserting test points and  simple methodology based on SCOAP is shown. The focus of work is a methodology created to optimize circuit tests. It was implemented in the form of software tools. Presented in this work are the results of using these tools to reduce the test vectors volume while maintaining fault coverage on various circuits, including circuits from the ISCAS 85 test set. Part of the work is devoted to the various principles and technology of creating multifunctional logic gates. Some selected gates of these technologies are subject to simulations of electronic properties in SPICE. Based on the principles of presented methodology and results of multifunctional gates simulations, analysis of various problems such as validity of the modified circuit test and the suitability of each multifunctional gate technology for the methodology was also made. The results of analysis and experiments confirm it is possible for the multifunctional logic gate to optimize circuit diagnostic properties in such a way that has achieved the required circuit test parameter modification with minimum impact on the quality and credibility of these tests.
Klíčová slova: multifunkční hradla; optimalizace testu; polymorfní hradla; testovací vektory; číslicový obvod; digital circuit; multifunctional gates; polymorphic gates; test optimization; test vectors

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/63267

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-261264


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Disertační práce