Název: Selftest pro automatický průmyslový tester
Překlad názvu: Self-Test for Automatic Industrial Tester
Autoři: Kyselý, Tomáš ; Dušek, Martin (oponent) ; Povalač, Aleš (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Diplomové práce
Rok: 2017
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: [cze] [eng]
Tato práce pojednává o testovací stanici ve společnosti NXP Semiconductors, pobočkou v Rožnově pod Radhoštěm. Popisuje nejprve samotnou testovací stanici a její možnosti při testování softwarových knihoven. Poté popisuje automatický selftest této stanice a jeho dílčí kroky. Práce má sloužit také jako dokumentace k selftestu pro vnitřní účely firmy. Work discusses about the test station in NXP Semiconductors Company in Rožnov pod Radhoštěm. It describes first the test station itself and its possibilities in software libraries testing. Second it describes automatic selftest of this station and sub-steps of this selftest. This work is also used as a documentation for company needs. KEYWORDS
Klíčová slova: FPGA; LabVIEW; National Instruments; PXI modul; PXI šasi; Self-test; testovací stanice; FPGA; LabVIEW; National Instruments; PXI chassis; PXI module; Self-test; test station

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/65272

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-316423


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Diplomové práce