Název: Návrh a optimalizace spínaného komparátoru v 250 nm CMOS technologii
Překlad názvu: Design and parameters optimization of latched comparator in 250 nm CMOS process
Autoři: Matěj, Jan ; Kledrowetz, Vilém (oponent) ; Prokop, Roman (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Diplomové práce
Rok: 2017
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: [cze] [eng]

Klíčová slova: analýza nesymetrie a přenosového zpoždění; Double tail.; dynamický komparátor; Komparátor; Lewis – Gray; Sense amplifier; spínací rušení; Comparator; Double Tail.; kickback noise; Latched comparator; Lewis – Gray; offset and propagation delay analysis; Sense Amplifier

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/66021

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-318180


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Diplomové práce
 Záznam vytvořen dne 2017-06-12, naposledy upraven 2022-09-04.


Není přiložen dokument
  • Exportovat ve formátu DC, NUŠL, RIS
  • Sdílet