Název:
AFM ve farmaceutické technologii 3.
Překlad názvu:
AFM in Pharmaceutical Technology 3.
Autoři:
Ščuryová, Veronika ; Doležal, Pavel (vedoucí práce) ; Musilová, Marie (oponent) Typ dokumentu: Diplomové práce
Rok:
2015
Jazyk:
slo
Abstrakt: [eng][cze] Charles University in Prague Faculty of Pharmacy in Hradec Králové Department of Pharmaceutical Technology Student: Veronika Ščuryová Supervisor: doc. RNDr. Pavel Doležal, CSc. Title of thesis: AFM in Pharmaceutical Technology 3 The theoretical part deals first with the construction of AFM microscope, the principle of the method, determining the surface topography and regimes which can be used. Described therein are distinct advantages over previous traditional methods but also its pitfalls. Next, I compare the results of measurements using AFM and declared size and devote also determine the shape of the particles. Experimental part is focused first on the detailed description of sample preparation for AFM measurement of nanoparticles. This procedure was followed by practical use to characterize the magnitude of the four types of commercially available nanoparticles Chromeonov (Sigma-Aldrich) using atomic force microscopy. The laboratory prepared Ag- nanoparticles could not be evaluated due to of technical and methodological reasons. The magnitude of the measured results nanoparticles were processed in histograms, which provide a description of the distribution of the measured values of the nanoparticle size. I found that compared to the size of the nanoparticles declared by the manufacturer are...Univerzita Karlova v Praze Farmaceutická fakulta v Hradci Králové Katedra farmaceutickej technológie Študent/ka: Veronika Ščuryová Školiteľ: doc. RNDr. Pavel Doležal, CSc. Názov práce: AFM vo farmaceutickej technológii 3 Teoretická časť sa najprv zaoberá stavbou AFM mikroskopu, princípom danej metódy, určovaním topografie povrchu a režimami v ktorých je možné merať. Sú v nej opísané nesporné výhody oproti predchádzajúcim tradičným metódam ale aj jej úskalia. Ďalej porovnávam výsledky meraní pomocou AFM a deklarované rozmery a venujem sa tiež určovaniu tvaru častíc. Experimentálna časť je najprv zameraná na detailný popis prípravy vzoriek nanočastíc pre AFM meranie. Tento postup bol následne prakticky využitý k charakterizácii veľkosti štyroch typov komerčne dostupných nanočastíc Chromeonov (Sigma-Aldrich) pomocou mikroskopie atómovej sily. Laboratórne pripravené AG-nanočastice sa z technicko- metodických dôvodov nepodarilo vyhodnotiť. Namerané výsledky veľkosti nanočastíc boli spracované do histogramov, ktoré poskytli popis rozloženia nameraných hodnôt veľkosti nanočastíc. Zistila som, že oproti veľkosti nanočastíc deklarovaných výrobcom, sú hodnoty získané meraním AFM vždy o desiatky percent, teda podstatne menšie. Pokúsila som metódu AFM využiť na hodnotenie tvaru nanočastíc, ale keďže je táto...
Klíčová slova:
mikroskopie atomové síly; atomic force microscopy
host ::
