Název: Definice parametru pro dekonvoluci obrazu z elektronového mikroskopu
Překlad názvu: Definition of Parameters for Image Deconvolution from Electron Microscope
Autoři: Typovský, Viktor ; Walek, Petr (oponent) ; Potočňák, Tomáš (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Diplomové práce
Rok: 2018
Jazyk: eng
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: [eng] [cze]
Tato diplomová práce se zabývá modelováním bodové rozptylové funkce (point spread function, PSF) u skenovacího transmisního elektronového mikroskopu (STEM). Nejprve je provedena teoretická rešerše, kde jsou popsány všechny důležitě aspekty, potřebné k následnému modelování. Je tedy proveden základní popis konstrukce přístroje a určeny jeho klíčové komponenty, které mají hlavní vliv na tvar výsledné PSF. Následně jsou popsány hlavní zobrazovací vady, které ovlivňují výslednou PSF. Ty jsou popsány z hlediska vlnové optiky. Na základě toho je pak navržen a zrealizován poměrně přesný model PSF u mikroskopu STEM. Poté je vytvořeno GUI, které umožňuje plné využití daného vytvořeného modelu. Na závěr je získaný model otestován na modelových a reálných datech, pomocí metody Lucy-Richardson. This master thesis deals with the point spread function (PSF) modelling of a Scanning Transmission Electron Microscope (STEM). First, the theoretical research is performed, describing all the important aspects, that are necessary for following modelling. Thus, the basic description of the construction of this device is performed. Than its key components are determined, which have a major influence on the shape of the resultant PSF. Subsequently, the main imaging aberrations that affect the resulting PSF are described. These are described in terms of wave optics. In this base, the relatively accurate PSF model of the STEM microscope is designed and realized. Then, the GUI is created which allows full use of the created model. Finally, the obtained model is tested on model and real data using the Lucy-Richardson method.
Klíčová slova: image deconvolution; imaging aberrations; model; point spread function (PSF); scanning transmission electron microscope (STEM); simulation; wave optics; dekonvoluce obrazu; model; point spread function( PSF); simulace; skenovácí transmisní elektronový mikroskop (STEM); vlnová optika; zobrazovací vady

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/81662

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-377767


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Diplomové práce