Název: Charakterizace strukturních a elektrických vlastností organických heterostruktur skenovacími rastrovacími metodami
Překlad názvu: Characterization of structural and electronic properties of organic heterostructures by scanning probe techniques
Autoři: Čermák, Jan ; Rezek, Bohuslav ; Cimrová, Věra ; Hörhold, H. H. ; Ledinský, Martin ; Fejfar, Antonín
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: Česká fotovoltaická konference /3./, Brno (CZ), 2008-11-03 / 2008-11-05
Rok: 2008
Jazyk: cze
Abstrakt: [cze] [eng]
Studium strukturních, elektrických a optoelektronických heterostruktur pomocí AFM, KFM, CS-AFM a mapování mikro-Ramanova rozptylu. Study of morphologic, electronic and optoelectronic properties of organic heterostructures by AFM, KFM, CS-AFM and micro-Raman mapping.
Klíčová slova: AFM; KFM; organic semiconductors; photovoltaics; Raman scattering
Číslo projektu: CEZ:AV0Z10100521 (CEP), CEZ:AV0Z40500505 (CEP), LC06040 (CEP), KAN400100701 (CEP), LC510 (CEP), GD202/05/H003 (CEP)
Poskytovatel projektu: GA MŠk, GA AV ČR, GA MŠk, GA ČR
Zdrojový dokument: Sborník příspěvků ze 3. České fotovoltaické konference, ISBN 978-80-254-3528-1

Instituce: Fyzikální ústav AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0169605

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-39873


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Fyzikální ústav
Konferenční materiály > Příspěvky z konference