Název: Samočinné testování mikrokontrolerů
Překlad názvu: Self-Testing of Microcontrollers
Autoři: Denk, Filip ; Šimek, Václav (oponent) ; Strnadel, Josef (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Diplomové práce
Rok: 2019
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta informačních technologií
Abstrakt: [cze] [eng]
Práce se zabývá funkční bezpečností elektronických systémů. Konkrétně se zaměřuje na samočinné testování mikroprocesoru a jeho periferií na softwarové úrovni. Cílem práce je navrhnout a implementovat soubor funkcí v jazyce C nebo v jazyce symbolických adres, které samočinně testují zvolené oblasti mikrokontroléru. Prostředky a metody použité v implementovaném řešení si také kladou za cíl splnit požadavky popsané v normě IEC 60730-1, příloha H, softwarová třída B. Zvolenou hardwarovou platformou je mikrokontrolér NXP LPC55S69, jež obsahuje dvě jádra ARM Cortex-M33. Výsledkem je demonstrační aplikace, která v průběhu vykonávání využívá implementované testovací funkce. Součástí je také uživatelské prostředí s možností injekce chyb. This Master's thesis deals with functional safety of electronic systems. Specifically, it focuses on self-testing of the microprocessor and its peripherals at the software level. The main aim of the thesis is to design and implement a set of functions written in programming language C or assembly language, which automatically test the selected areas of the microcontroller. Resources and methods used in the implemented solution also aim to meet the requirements according to the safety standard IEC 60730-1, Annex H, Software Class B. The microcontroller NXP LPC55S69 was chosen as a hardware platform. It consists of two ARM Cortex-M33 cores. As a result, the example application is provided, which uses implemented test functions at the run-time. Example application also contains a graphical user interface with fault injection ability.
Klíčová slova: ARM Cortex; funkční bezpečnost; IEC 60730; IEC 61508; mikrokontrolér; mikroprocesor; samočinné testování; testování; vestavěný systém; VLSI; ARM Cortex; embedded system; functional safety; IEC 60730; IEC 61508; microcontroller; microprocessor; self-test; testing; VLSI

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/180366

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-403152


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Diplomové práce