Název: Transmission of Electrons through Thin Films by Scanning Low Energy Electron Microscopy
Autoři: Müllerová, Ilona ; Hovorka, Miloš ; Fořt, Tomáš ; Frank, Luděk
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: CJCS’09 - Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology /4./, Brno (CZ), 2009-08-10 / 2009-08-14
Rok: 2009
Jazyk: eng
Abstrakt: For examination of thin films by transmitted electrons (TE) the Transmission Electron Microscope is used at primary beam energies in hundreds of keV. The Scanning Electron Microscopes (SEM) utilize reflected electrons in order to image surfaces but recently the TE mode has been introduced into SEM at much lower electron energies.
Klíčová slova: scanning low energy electron microscopes; transmission electron microscope
Číslo projektu: CEZ:AV0Z20650511 (CEP), IAA100650902 (CEP)
Poskytovatel projektu: GA AV ČR
Zdrojový dokument: Proceedings of the 4th Czech-Japan-China Cooperative Symposium on Nanostructure of Advanced Materials and Nanotechnology (CJCS’09), ISBN 978-80-254-4535-8

Instituce: Ústav přístrojové techniky AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0179802

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-40968


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Ústav přístrojové techniky
Konferenční materiály > Příspěvky z konference