Název: Coincidence imaging System with Electron Optics
Autoři: Kroupa, M. ; Jakoubek, J. ; Krejčí, E. ; Valach, O. ; Horáček, Miroslav ; Radlička, Tomáš ; Vlček, Ivan
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: International workshop on radiation imaging detectors /11./, Praha (CZ), 2009-06-26 / 2009-07-02
Rok: 2009
Jazyk: eng
Abstrakt: Instrumental neutron activation analysis (INAA) is a widely used method for elemental analysis. After the sample is put into a neutron field, where nuclei of interest become activated, these nuclei emit gamma photons with characteristic energies for each element. By measuring gamma spectrum of the activated sample one can determine the sample elemental composition with very high precision. In order to find out the spatial distribution of elements, the sample is usually cut into pieces, which are examined individually. Such procedure is time consuming and the spatial resolution is limited by the size of the pieces. This contribution follows up the work where the semiconductor pixel detector Timepix was used for revealing the concentration and distribution of certain elements in a whole sample at once (imaging coincidence INAA) [1]. Photons detected by a standard semiconductor detector were used to trigger the Timepix device which detected the accompanying electrons.
Klíčová slova: coincidence imaging system; instrumental neutron activation analysis; Timepix
Číslo projektu: CEZ:AV0Z20650511 (CEP)
Zdrojový dokument: 11th International Workshop on Radiation Imaging Detectors, ISBN 978-80-01-04378-3

Instituce: Ústav přístrojové techniky AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0180986

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-41097


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Ústav přístrojové techniky
Konferenční materiály > Příspěvky z konference