Název: Systém pro počítačové měření charakteristik tranzistorů
Překlad názvu: System for computer measurement of transistor characteristics
Autoři: Krásl, Martin ; Šotner, Roman (oponent) ; Brančík, Lubomír (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Bakalářské práce
Rok: 2020
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Abstrakt: [cze] [eng]

Klíčová slova: analýza; bipolární tranzistor; charakteristiky; diferenční parametry; měřicí zdroj; analysis; bipolar transistor; characteristics; differential parameters; measuring supply

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/190295

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-413443


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Bakalářské práce
 Záznam vytvořen dne 2020-07-11, naposledy upraven 2022-09-04.


Není přiložen dokument
  • Exportovat ve formátu DC, NUŠL, RIS
  • Sdílet