Název: Příprava a charakterizace atomárně tenkých vrstev
Překlad názvu: Fabrication and characterization of atomically thin layers
Autoři: Tesař, Jan ; Kunc, Jan (oponent) ; Procházka, Pavel (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Diplomové práce
Rok: 2020
Jazyk: eng
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
Abstrakt: [eng] [cze]

Klíčová slova: 2D materials; charge carrier mobility; GFET; Graphene; hBN; mechanical cleavage; SiO2; van der Waals heterostructures; 2D materiály; GFET; Grafen; hBN; mechanická exfoliace; pohyblivost nosičů náboje; SiO2; van der Waalsovy heterostruktury

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/192372

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-417143


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Diplomové práce
 Záznam vytvořen dne 2020-08-02, naposledy upraven 2022-09-04.


Není přiložen dokument
  • Exportovat ve formátu DC, NUŠL, RIS
  • Sdílet