Název: Návrh vhodného etalonu délky pro nano-CT měřicí přístroj
Překlad názvu: Design of a suitable length standard for nanp-CT measuring device
Autoři: Kožiol, Martin ; Jankových, Róbert (oponent) ; Šrámek, Jan (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Diplomové práce
Rok: 2020
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta strojního inženýrství
Abstrakt: [cze] [eng]
Diplomová práce se zabývá návrhem tří etalonů délky, které poslouží pro zajištění metrologické návaznosti mezi přístroji Rigaku nano3DX, SIOS NMM-1, Zeiss UPMC Carat 850 a dalšími přístroji umístěnými na ÚVSSR VUT a CEITEC Brno. První část je zaměřena na teoretické seznámení se s pojmy úzce souvisejícími s problematikou zajišťování metrologické návaznosti. Kromě toho se tato část zabývá výpočetní tomografií a popisem jednotlivých přístrojů. V druhé části jsou řešeny návrhy, postup výroby a odzkoušení jednotlivých etalonů. Poslední část je věnována popisu zajištění kalibrace nejmenšího etalonu, tzv. Nano etalonu a výpočtu nejistoty měření jeho kalibrované délky. Ke konci práce jsou výstupy těchto činností zhodnoceny. The diploma thesis deals with the design of three length standards, which will serve to ensure metrological traceability between Rigaku nano3DX, SIOS NMM-1, Zeiss UPMC Carat 850 and other devices located at ÚVSSR BUT and CEITEC Brno. The first part of the thesis focuses on the theoretical acquaintance with concepts closely related to the issue of ensuring metrological traceability. In addition, this section deals with computed tomography and the description of individual devices. The second part of the thesis is devoted to design, production process and testing of individual standards. The last part describes the ensuring the calibration of the smallest standard, the so-called Nano standard and the calculation of the uncertainty of measuring its calibrated length. At the end of the thesis, the outputs of these activities are evaluated.
Klíčová slova: Airyho body; akreditace; CMM; metrologická návaznost; Nano etalon; nano-CMM; nano-CT; nanometrologie; rentgenová výpočetní tomografie; Rigaku nano3DX; SIOS NMM-1; substituční metoda výpočtu nejistoty měření.; Zeiss UPMC Carat 850; accreditation; Airy points; CMM; metrological traceability; Nano standard; nano-CMM; nano-CT; nanometrology; Rigaku nano3DX; SIOS NMM-1; substitution method for calculating measurement uncertainty.; X-ray computed tomography; Zeiss UPMC Carat 850

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/192772

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-417542


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Diplomové práce