Název: Optical and scanning electron microscopies in examination of ultrathin foils
Autoři: Konvalina, Ivo ; Hovorka, Miloš ; Fořt, Tomáš ; Müllerová, Ilona
Typ dokumentu: Příspěvky z konference
Konference/Akce: International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation /12./, Skalský dvůr (CZ), 2010-05-31 / 2010-06-04
Rok: 2010
Jazyk: eng
Abstrakt: Very low energy scanning transmission electron microscopy is emerging as a novel tool for examination of ultrathin foils to learn more about the electron structure of solids. The electron micrographs provide image contrasts governed by the effective thickness of the sample proportional to the inner potential and at lowest energies the local density of electron states in the direction of impact of the electron wave starts to dominate. The optical methods are used during the sample preparation. The laser confocal microscope Olympus Lext OLS 3100 was used for preliminary observations of the 3 nm C foil prepared by magnetron sputtering in nitrogen atmosphere on a flat glass covered by a disaccharide layer.
Klíčová slova: laser confocal microscope; ultrathin foils; very low energy scanning transmission electron microscopy
Číslo projektu: CEZ:AV0Z20650511 (CEP), IAA100650902 (CEP)
Poskytovatel projektu: GA AV ČR
Zdrojový dokument: Proceedings of the 12th International Seminar on Recent Trends in Charged Particle Optics and Surface Physics Instrumentation, ISBN 978-80-254-6842-5

Instituce: Ústav přístrojové techniky AV ČR (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Dokument je dostupný v příslušném ústavu Akademie věd ČR.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11104/0190600

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-41921


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Věda a výzkum > AV ČR > Ústav přístrojové techniky
Konferenční materiály > Příspěvky z konference