Název: Diagnostika depozice tenkých vrstev připravovaných z dimethylphenylsilanu
Překlad názvu: Diagnostics of thin layer deposition using dimethylphenylsilane monomer
Autoři: Procházka, Michal ; Kudrle, Vít (oponent) ; Krčma, František (vedoucí práce)
Typ dokumentu: Diplomové práce
Rok: 2010
Jazyk: cze
Nakladatel: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta chemická
Abstrakt: [cze] [eng]

Klíčová slova: depozice tenkých vrstev; diagnostika plazmatu; optická emisní spektrometrie; organokřemičitany; optical emission spectroscopy; organosilanes; plasma diagnostics; thin film deposition

Instituce: Vysoké učení technické v Brně (web)
Informace o dostupnosti dokumentu: Plný text je dostupný v Digitální knihovně VUT.
Původní záznam: http://hdl.handle.net/11012/13471

Trvalý odkaz NUŠL: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-575355


Záznam je zařazen do těchto sbírek:
Školství > Veřejné vysoké školy > Vysoké učení technické v Brně
Vysokoškolské kvalifikační práce > Diplomové práce
 Záznam vytvořen dne 2024-04-02, naposledy upraven 2024-04-03.


Není přiložen dokument
  • Exportovat ve formátu DC, NUŠL, RIS
  • Sdílet