No (153)
Yes (1)
Number of found documents:
154
Published from
to
Preparation and characterization of selected optical materials
Hulicius, Eduard
2013 - Czech
Crystal structure and technology procedure was optimized to obtained better parameters of PL and RL as well as homogeneity of structure. Structural and optical parameters were measured and evaluated; their influence on crystal characteristics was discussed. New improved material was proposed. P.W = Peak wavelength; P.I = Peak intensity; FWHM = Full With in Half Maximum; D.W = dominant wavelength; I.W = integral w.; I.I = integrated intensity; R.F = reflectivity; T.H = thickness were measured. Optimalizovali jsme krystalovou strukturu a technologii přípravy, abychom získali lepší parametry PL a RL a také homogenity struktury. Měřili a vyhodnotili jsme strukturní a optické parametry; byl diskutován jejich vliv na charakteristiky krystalu. Navrhli jsme nový vylepšený materiál. P.W = vlnová délka maxima; P.I = intenzita maxima; FWHM = šířka v polovině výška maxima; D.W = dominantní vlnová délka; I.W = integrální vlnová délka; I.I = integrovaná intenzita; R.F = reflektivita; T.H = tloušťka byly změřeny.
Keywords:
optical crystals; photoluminescence; radioluminescence; X-ray diffraction
Available at various institutes of the ASCR
Preparation and characterization of selected optical materials
Crystal structure and technology procedure was optimized to obtained better parameters of PL and RL as well as homogeneity of structure. Structural and optical parameters were measured and evaluated; ...
The measurement of electrical properties of silicon nanostructures with use of atomic force microscopy
Hývl, M.; Fejfar, Antonín; Vetushka, Aliaksi
2013 - Czech
Atomic force microscopy (AFM) can be used to measure local surface potential or local conductivity. These properties are very useful to characterize photovoltaic silicon nanostructures, such as polycrystalline silicon or silicon nanorods. In this article, we demonstrate these methods and show the results of our measurements. Mikroskop atomárních sil (AFM) je mimo jiné možné použít k měření lokálních změn povrchového potenciálu či lokální vodivosti. Právě tyto vlastnosti jsou obzvláště zajímavé při studiu křemíkových struktur určených k fotovoltaickým aplikacím, jako například polykrystalický křemík či křemíkové dráty. V článku budou popsány jednotlivé měřící metody a ukázány výsledky těchto měření.
Keywords:
AFM; photovoltaics; polycrystalline silicon; silicon nanowires
Available at various institutes of the ASCR
The measurement of electrical properties of silicon nanostructures with use of atomic force microscopy
Atomic force microscopy (AFM) can be used to measure local surface potential or local conductivity. These properties are very useful to characterize photovoltaic silicon nanostructures, such as ...
Electron back-scattered diffraction as a method for grain boundary analysis in polycrystalline materials
Malachov, Martin; Jäger, Aleš
2013 - Czech
Current development of analytical techniques in scanning electron microscopy allowed us to obtain precise information about the crystallography and chemical composition of materials. Aim of this work is to explain electron back-scatter diffraction (EBSD) technique and its utilization in grain characterization of polycrystalline materials. Rozvoj analytických technik řádkovacího elektronového mikroskopu (SEM) umožnil získat velmi přesné mikrostrukturní informace o krystalografii (EBSD) a chemickém složení (EDS) mnoha materiálů. Cílem prezentace je vysvětlit princip SEM-EBSD, demonstrovat jeho možnosti a nastínit jeho využití při analýze hranic zrn v polykrystalickém materiálu.
Keywords:
EBSD; crystalography; grain boundary
Available at various institutes of the ASCR
Electron back-scattered diffraction as a method for grain boundary analysis in polycrystalline materials
Current development of analytical techniques in scanning electron microscopy allowed us to obtain precise information about the crystallography and chemical composition of materials. Aim of this work ...
Using the contact profilometer to measure the dimensional changes of metal samples after laser treatment
Hiklová, Helena; Chmelíčková, Hana; Havelková, Martina; Řiháková, Lenka
2013 - Czech
The paper presents several specific examples of the use of contact profilometer Taylor Hobson. It is used here for mapping of the metal surface samples after laser hardening and remelting. There is a change in the volume of the sample after laser material processing. The contact profilometer seems to be the best choice for measuring of modification of volume and dimensions. V příspěvku je uvedeno několik konkrétních příkladů využití kontaktního profiloměru firmy Taylor Hobson pro mapování povrchu kovových vzorků zpracovaných moderními technologiemi laserového kalení a přetavování, kdy vlivem změn původní krystalografické struktury dojde k objemovým změnám v místě interakce laserového svazku s materiálem. Pro přesné měření těchto rozměrových a objemových změn se ukazuje kontaktní profiloměr jako nejlepší řešení.
Keywords:
contact measuring; surface roughness; surface mapping; laser treatment
Available at various institutes of the ASCR
Using the contact profilometer to measure the dimensional changes of metal samples after laser treatment
The paper presents several specific examples of the use of contact profilometer Taylor Hobson. It is used here for mapping of the metal surface samples after laser hardening and remelting. There is a ...
Applications of Electron back-scattered diffraction
Kopeček, Jaromír
2012 - Czech
The contribution describe the application of Electron back-scattered diffraction Příspěvek popisuje použití difrakce zpětně odražených elektronů.
Keywords:
EBSD method; scanning electron microscopy
Available at various institutes of the ASCR
Applications of Electron back-scattered diffraction
The contribution describe the application of Electron back-scattered diffraction
Methodology of not destructive determination of boron concentration profile in Si wafers
Holovský, Jakub; Remeš, Zdeněk
2012 - Czech
A new method of determination of diffusion profiles in fast, not destructive and contactless (with help of infra-red reflexion) way was designed, theoretically analysed, realized either in computational and in experimental field and finally successfully tested. Byla navržena, teoreticky analyzována, realizována jak po stránce výpočetní, tak po stránce experimentální a nakonec úspěšně odzkoušena nová metoda určování difúzních profilů rychle, nedestruktivně a bezkontaktně pomocí infračervené reflexe.
Keywords:
silicon substrate; boron concentration profile; IR reflection; UV ellipsometry
Available at various institutes of the ASCR
Methodology of not destructive determination of boron concentration profile in Si wafers
A new method of determination of diffusion profiles in fast, not destructive and contactless (with help of infra-red reflexion) way was designed, theoretically analysed, realized either in ...
Annealing of thin film polycrystalline silicon solar cells in water vapour
Pikna, Peter; Fejfar, Antonín
2012 - Czech
Samples of thin film polycrystalline silicon solar cells prepared by the Company CSG Solar AG were treated in water vapour. Appearance of treated solar cells was very similar to samples etched in a solution of acids, which is commonly used to approach the bottom part of pn junction. No significant improvement of measured open-circuit voltage Voc was observed, but the etching effect of water vapour can determine the upper limit of temperature, pressure and treatment time for water vapour passivation. Novel approach for preparation of a depth profile to approach the bottom part of pn junction is proposed. Vzorky polykrystalických křemíkových (poly-Si) solárních článků vyrobené firmou CSG Solar byly pasivovány ve vodní páře. Solární články po pasivaci připomínaly svým vzhledem články leptané ve směsi kyselin běžně používané na odstranění vrchní p+ vrstvy pro kontaktování spodní n+ vrstvy. Ačkoliv nebylo pozorováno výraznější zlepšení napětí naprázdno Voc, leptací efekt poly-Si ve vodě může stanovit horní hranice teploty, tlaku a doby vhodné pro pasivaci s minimálním negativním dopadem na článek. V neposlední řadě je prezentován také inovativní způsob kontaktování spodní n+ vrstvy na skle pro měření volt-ampérových charakteristik Suns-Voc metodou.
Keywords:
thin film; solar cell; polycrystalline silicon; water vapour; grain boundary; Suns-Voc
Available at various institutes of the ASCR
Annealing of thin film polycrystalline silicon solar cells in water vapour
Samples of thin film polycrystalline silicon solar cells prepared by the Company CSG Solar AG were treated in water vapour. Appearance of treated solar cells was very similar to samples etched in a ...
Methodology of not destructive determination of phosphorus concentration profile in Si wafers
Holovský, Jakub; Remeš, Zdeněk
2012 - Czech
A new method of determination of diffusion profiles in fast, not destructive and contactless (with help of infra-red reflexion) way was designed, theoretically analysed, realized either in computational and in experimental field and finally successfully tested. Byla navržena, teoreticky analyzována, realizována jak po stránce výpočetní, tak po stránce experimentální a nakonec úspěšně odzkoušena nová metoda určování difúzních profilů rychle, nedestruktivně a bezkontaktně pomocí infračervené reflexe.
Keywords:
silicon substrate; phosphorus concentration profile; IR reflection; IR ellipsometry
Available at various institutes of the ASCR
Methodology of not destructive determination of phosphorus concentration profile in Si wafers
A new method of determination of diffusion profiles in fast, not destructive and contactless (with help of infra-red reflexion) way was designed, theoretically analysed, realized either in ...
Physical principle of lasers
Chmelíčková, Hana
2011 - Czech
Laser as generator of monochromatic, coherent radiation with low divergence is widely used in industrial systems that are equipped by manipulating devices, processing gasses and safety elements. Laser je generátor monochromatického a koherentního záření s nízkou rozbíhavostí. Podstatou jeho činnosti je stimulovaná emise záření ve vhodném aktivním prostředí, které je umístěno v ose optického rezonátoru.
Keywords:
lasers
Available at various institutes of the ASCR
Physical principle of lasers
Laser as generator of monochromatic, coherent radiation with low divergence is widely used in industrial systems that are equipped by manipulating devices, processing gasses and safety elements.
Tests of thermal and radiation embrittlement of reactor steel 15CH2MFA
Dvořáková, M.; Kadlecová, Jana; Konop, R.; Tomáš, Ivan; Vértesy, G.
2011 - Czech
Results are presented of mechanical destructive and magnetic nondestructive tests of the 15Ch2MFA steel, used for pressure vessels of the VVER40 reactor type. Two series of samples were tested: (i) samples, embrittled by a special thermal processing, and (ii)samples, embrittled in a reactor by high fluences of neutron radiation. Results of mechanical impact Charpy tests are compared with results of Magnetic Adaptive Testing carried out on the two sample series. The existence of mutual correlation between the two types of examination indicates alternative of replacement of the mechanical destructive tests of classical surveillance samples by magnetic tests, which are nondestructive. Předkládáme výsledky destruktivního mechanického a nedestruktivního magnetického testování oceli 15Ch2MFA pro tlakové nádoby reaktorů typu VER440. K testům byl použity (i) vzorky, jejichž zkřehnutí bylo dosaženo speciálním tepelným zpracováním a (ii)vzorky, jejichž zkřehnutí bylo zůsobeno vysokými dávkami neutronového záření v reaktoru. Srovnáváme výsledky destruktivních zkoušek vrubové houževnatosti s výsledky Magnetického adaptivního testování vzorků obou sérií. Existence vzájemné korelace mezi oběma typy zkoušení ukazuje možnost nahradit klasické svědečné vzorky pro destruktivní mechanické zkoušky sérií vzorků pro zkoušky magnetické, které jsou nedestruktivní.
Keywords:
degradation of steel by neutron irradiation; pressure vessels of nuclear reactors; magnetic non-destructive testing; Magnetic Adaptive Testing; Charpy tests
Available at various institutes of the ASCR
Tests of thermal and radiation embrittlement of reactor steel 15CH2MFA
Results are presented of mechanical destructive and magnetic nondestructive tests of the 15Ch2MFA steel, used for pressure vessels of the VVER40 reactor type. Two series of samples were tested: (i) ...
NRGL provides central access to information on grey literature produced in the Czech Republic in the fields of science, research and education. You can find more information about grey literature and NRGL at service web
Send your suggestions and comments to nusl@techlib.cz
Provider
Other bases